壓敏電阻采購(gòu),就選源林電子,廠家直銷
漏電流IL
漏電流(mA)也稱等待電流,是指壓敏電阻器在規(guī)定的溫度和直流過(guò)壓敏電阻器電流。IEC對(duì)漏電流 IL較為普遍的定義是:環(huán)境溫度25℃時(shí),在壓敏電阻上施加其所屬規(guī)格的連續(xù)直流工作電壓UDC時(shí),流過(guò)壓敏電阻的直流電流。
一般而言,在材料配方和燒結(jié)工藝固定的情況下,漏電流適中的壓敏電阻具有較好的安全性和較長(zhǎng)的壽命。
源林電子的壓敏電阻器廣受贊譽(yù),可靠性高、性價(jià)比高,具有很強(qiáng)的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,想了解更多溫度傳感器資料,歡迎來(lái)電咨詢!
壓敏電阻采購(gòu),就選源林電子,型號(hào)豐富
壓敏電壓U1mA
壓敏電阻的線性向非線性轉(zhuǎn)變的電壓轉(zhuǎn)變時(shí),位于非線性的起點(diǎn)電壓正好在I-V曲線的的拐點(diǎn)上,該電壓確定為元件的啟動(dòng)電壓,也稱為壓敏電壓,是由阻性電流測(cè)試而得的。由于I-V曲線的轉(zhuǎn)變點(diǎn)清晰度不明顯,多數(shù)情況下是在通1mA電流時(shí)測(cè)量的,用U1mA來(lái)表示。對(duì)于一定尺寸規(guī)格的ZnO壓敏電阻片,可通過(guò)調(diào)節(jié)配方和元件的幾何尺寸來(lái)改變其壓敏電壓。亦有使用10mA電流測(cè)定的電壓作為壓敏電壓者,以及使用標(biāo)稱電流測(cè)試者,標(biāo)稱電壓定義為0.5mA/cm2,電流密度測(cè)定的電場(chǎng)強(qiáng)度E0.5表示,對(duì)于大多數(shù)壓敏電阻器而言,這個(gè)值更接近非線性的起始點(diǎn)。3. 漏電流IL壓敏電阻器進(jìn)入擊穿區(qū)之前在正常工作電壓下所流過(guò)的電流,稱為漏電流IL。漏電流主要由三部分貢獻(xiàn):元件的容性電流,元件的表面態(tài)電流和元件晶界電流。一般對(duì)漏電流的測(cè)量是將0.83倍U1mA的電壓加于壓敏電阻器兩端,此時(shí)流過(guò)元件的電流即為漏電流。根據(jù)壓敏電阻器在預(yù)擊穿區(qū)的導(dǎo)電機(jī)理,漏電流的大小明顯地受到環(huán)境溫度的影響。當(dāng)環(huán)境溫度較高時(shí),漏電流較大;反之,漏電流較小。可以通過(guò)配方的調(diào)整及制造工藝的改善來(lái)減小壓敏電阻器的漏電流。研究低壓元件的漏電流來(lái)源是很重要的,為了促進(jìn)ZnO晶粒的長(zhǎng)大,低壓元件中通常會(huì)添加大量的TiO2,過(guò)量摻雜造成壓敏元件漏電流增大[6]~[9],在元件性能測(cè)試時(shí)容易引入假象,例如壓敏電壓和啟動(dòng)電壓偏離較大。測(cè)試元件的非線性時(shí),我們希望漏電流以通過(guò)晶界的電流為主。但低壓元件普遍存在吸潮現(xiàn)象,初燒成的低壓元件漏電流可以保持在4~20μA內(nèi),放置8~24h后,元件的漏電流可以增大到200μA。這樣的元件的晶界非線性并沒有被破壞,但卻表現(xiàn)出非線性低,壓敏電壓也稍有降低的表象。
由于壓敏電阻型號(hào)太多,篇幅有限,恕不一一呈現(xiàn),欲知詳請(qǐng),歡迎撥打圖片中的咨詢電話與我們源林電子聯(lián)系,謝謝!
壓敏電阻采購(gòu),就選源林電子,自有技術(shù)團(tuán)隊(duì)
低電場(chǎng)區(qū)域的漏電流
漏電流包括阻性和容性兩部分,交流電壓下容性電流比阻性電流大得多。溫度升高或電場(chǎng)增大,阻性電流增大。壓敏電壓的溫度系數(shù)在-10-4/℃—-10-3/℃之間,計(jì)算公式如下:
T=dU1mA/(U1mAdT)
源林電子的壓敏電阻廣受贊譽(yù),可靠性高、性價(jià)比高,具有很強(qiáng)的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,想了解更多壓敏電阻資料,歡迎來(lái)電咨詢!
您好,歡迎蒞臨源林電子,歡迎咨詢...
![]() 觸屏版二維碼 |